絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀操作方式
絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀操作方式
絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀測(cè)量*電阻和非常微弱電流的精密儀器是因?yàn)闄C(jī)器內(nèi)有一個(gè)超高性能的靜電計(jì)放大器，盡管儀器有多種保護(hù)措施，這個(gè)超高性能的靜電放大器在以下這些不正確操作使用中均可能因過大電流沖擊、過電壓或放電等*損壞或降低其測(cè)量精度與性能。
測(cè)試過程 | 不正確的操作方式 | 后果 | 是否閱讀 |
開機(jī)前
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沒有將電壓撥至10V，電阻電流量程檔撥至104
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過電流沖擊造成儀器放大器過電流而損壞
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測(cè)試過程
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隨意調(diào)節(jié)后面板電壓量程而改變測(cè)試電壓
| 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞
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測(cè)試過程 | 改變屏蔽箱上體面電阻，表面電測(cè)測(cè)試開關(guān) | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞 |
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測(cè)試過程 | 測(cè)試電壓過高，導(dǎo)致測(cè)試材料擊穿 | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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測(cè)試過程 | 微電流測(cè)量線與高壓線短路 | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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測(cè)試完成
| 未將電壓量程撥至10V，電阻電流量程檔撥至104進(jìn)行關(guān)機(jī)。
| 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀主要特點(diǎn)
- 電阻測(cè)量范圍 1×104Ω ～1×1018 Ω；
- 電流測(cè)量范圍 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ；
- 體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高；
u *的被測(cè)電阻、和流過電阻的電流雙顯示，使操作測(cè)量更加方便；
u 性能穩(wěn)定、讀數(shù)方便；
u 既能測(cè)電阻又能測(cè)電流；
u 測(cè)試電壓有六種選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；
u 使用操作簡(jiǎn)便，在任何電阻量程和測(cè)試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果，免去要乘以一個(gè)系數(shù)的麻煩，使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。
絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀度優(yōu)于下表：
量程 | 有效顯示范圍 | 20～30℃ RH<80% |
104 | 0.01~19.99 | 1% |
105 | 0.01～19.99 | 1% |
106 | 0.01～19.99 | 1% |
107 | 0.01～19.99 | 1% |
108 | 0.01～19.99 | 1% |
109 | 0.01～19.99 | 1% |
1010 | 0.01～19.99 | 5%+2字 |
1011 | 0.01～19.99 | 5%+2字 |
1012 | 0.01～19.99 | 5%+5字 |
1013 | 0.01～19.99 | 10%+5字 |
1014 | 0.01～19.99 | 10%+5字 |
1014以上 | 0.01～19.99 | 10-15%+5字 |
( 超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加)測(cè)試電流準(zhǔn)確度與電阻相同測(cè)試電壓準(zhǔn)確度為 10%
